用戶(hù)在測(cè)試5G FR1介質(zhì)濾波器、隔離器這類(lèi)無(wú)源器件的S參數(shù)時(shí)，由于產(chǎn)品自身物理特性的限制，通常每個(gè)器件都需要調(diào)試。

測(cè)試挑戰(zhàn)

元器件生產(chǎn)調(diào)試時(shí)間長(zhǎng)，需求很多VNA調(diào)試工位，測(cè)試成本長(zhǎng)期居高不下

為了滿(mǎn)足批量生產(chǎn)的需求，用戶(hù)需要布置很多工位來(lái)調(diào)試這些器件的S參數(shù)指標(biāo)。傳統(tǒng)的做法是在每個(gè)工位獨(dú)立配置一臺(tái)二端口VNA，這樣整個(gè)車(chē)間會(huì)需求大量的VNA，導(dǎo)致用戶(hù)的測(cè)試成本長(zhǎng)期居高不下。如何進(jìn)一步降低測(cè)試成本，成為用戶(hù)當(dāng)前大的挑戰(zhàn)。

 傳統(tǒng)測(cè)試方案帶來(lái)大量的資源閑置

在調(diào)試這類(lèi)無(wú)源器件時(shí)，通常只需觀測(cè)一個(gè)測(cè)量畫(huà)面下的曲線(xiàn)變化情況，與儀器相關(guān)的參數(shù)配置基本固定不變。而現(xiàn)代VNA測(cè)量功能非常強(qiáng)大，可以同時(shí)配置多組測(cè)量通道(Channel)和測(cè)量顯示界面（Diagram），各測(cè)量通道之間的切換速度非常之快，肉眼幾乎無(wú)法辨別。顯然，一臺(tái)VNA只對(duì)應(yīng)一個(gè)DUT的傳統(tǒng)測(cè)試方案，會(huì)造成儀器測(cè)量資源大量閑置。為了提高儀器的使用效率，迫切需要對(duì)儀器資源進(jìn)行復(fù)用。

 羅德與施瓦茨推出新的解決方案

羅德與施瓦茨提供更具性?xún)r(jià)比的多端口方案，用于多個(gè)DUT同時(shí)測(cè)試

針對(duì)以上情況，為了進(jìn)一步降低測(cè)試成本，羅德與施瓦茨提供了一種更具性?xún)r(jià)比的測(cè)試方案：基于R&S®ZNB矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和R&S®ZN-Z84開(kāi)關(guān)矩陣的多端口擴(kuò)展方案，該方案可對(duì)一臺(tái)R&S®ZNB主機(jī)進(jìn)行多工位復(fù)用。

方案特點(diǎn)：

• 測(cè)試速度快，成本低

• 可多屏呈現(xiàn)且互不干擾

• R&S®ZN-Z84即插即用，與主機(jī)連接方便

• R&S®ZN-Z84采用固態(tài)開(kāi)關(guān)，開(kāi)關(guān)切換速度快

• 用戶(hù)界面友好，用戶(hù)無(wú)需對(duì)R&S®ZN-Z84進(jìn)行額外操作 

三個(gè)DUT通過(guò)共用一臺(tái)網(wǎng)絡(luò)分析儀，實(shí)現(xiàn)了獨(dú)立調(diào)試和獨(dú)立顯示、互不干擾，從而大大降低了產(chǎn)線(xiàn)成本。同時(shí)，測(cè)試速度和測(cè)試精度俱佳。

同理，如果開(kāi)關(guān)矩陣配置為24個(gè)端口，用戶(hù)可以將24個(gè)端口劃分為12個(gè)二端口測(cè)試，同時(shí)可調(diào)試12個(gè)二端口器件。