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LANGER EMV-Technik RF1近場探頭組 信號分析儀的詳細資料:
LANGER EMV-Technik RF1近場探頭組,包含4個無源近場探頭,用于在研發(fā)階段測量電子模塊上的電場和磁場,頻率范圍為30MHz到3GHz。利用RF 1探頭組的探頭,可以實現緊貼電子模塊測量,比如貼近單個IC引腳、導線、元器件及其連接點測量,從而定位干擾信號源。通過相應地操作近場探頭,能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便,并具備外皮電流衰減和電屏蔽。 這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內部沒有安裝50Ω終端電阻。
LANGER EMV-Technik RF1近場探頭組內容:
1xRF-K 7-4, 磁場探頭(30MHz-3GHz)
1xRF-E 10, 電場探頭(30MHz-3GHz)
1xRF-R 3-2, 磁場探頭(30MHz-3GHz)
1xRF-U 2.5-2, 磁場探頭(30MHz-3GHz)
1xSMB-BNC 1 m, SMB-BNC 測量電纜
1xCase 4
LANGER EMV-Technik RF1近場探頭組技術參數:
頻率范圍: 30 MHz ... 3 GHz
接口類型: SMB, male, jack
LANGER EMV-Technik RF1近場探頭組產品簡介:
RF-K 7-4型近場探頭能夠測量反向進入探頭的環(huán)形磁場線。這類磁場線通常出現于導線、棒形結構、電纜接頭和扁平單元的邊緣等。該探頭的工作方式類似于電流耦合鉗
RF-E 10型電場探頭的電極位于探頭下邊,約0.2mm寬,可以定位小的電場源,例如0.1mm寬的導線,高引腳數集成電路的單個引腳。
RF-R 3-2型近場探頭,分辨率高,用于直接檢測電子組裝件上的射頻磁場,例如引腳區(qū)域、集成電路外殼、導線、旁路電容器和電磁兼容性(EMC)元件等的磁場。
RF-U 2.5-2型磁場探頭是一個近場探頭,用于檢測導線、元件引腳、SMD組件和集成電路引腳中的射頻電流。這個探頭頂端有一個約0.5mm寬的磁場敏感缺口,測試時將這個缺口放在被測對象上。
“SMB-BNC 1 m”測量電纜為同軸結構的RG174射頻電纜,波阻抗為50Ω。這種測量電纜柔性*,特別適合使用近場探頭進行測量。
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